单向单交叉并行链优先约束的可靠性系统测试优化

• 作者: 崔利荣 李岳
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 数学
• 关键词: 可靠性 最优序列 优化测试
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 324-328
• 页数: 5页
• 分类号: O212
• 字数: 6063字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2007.02.041

摘要

针对具有单向单交叉并行链优先约束的可靠性系统的最优测试序列问题,提出了一种最优测试原则,该测试原则的约束条件更接近复杂的实际情况.通过证明三个相关的定理,分别解决了单向单交叉并行链优先约束的问题转化形式,相交单元在最优测试序列中测试的先后顺序,以及反"Y"形优先约束问题的最优测试序列.利用这一测试原则,可使此类系统获得总期望测试成本最小.通过一系列证明,给出了该原则的求证过程及具体步骤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔利荣	北京理工大学管理与经济学院	45	216	7.0	12.0
2	李岳	北京理工大学管理与经济学院	4	10	1.0	3.0