STM、AFM、SEM和TEM对溶液中纳米微粒形貌和粒度分布的检测

• 作者: 万牡华 欧阳健明
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 纳米微粒 STM AFM SEM TEM
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 1422-1430,1421
• 页数: 10页
• 分类号: O766
• 字数: 6930字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2007.06.048

摘要

纳米材料因其独特的光、电、磁、力、催化和吸附等性能而被广泛应用.纳米微粒的检测是纳米材料和纳米科技发展的重要保证.本文综述了采用扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)等现代显微镜技术检测溶液中纳米微粒形貌和粒度分布研究进展,并比较了这些方法的差异.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧阳健明	暨南大学生物矿化与结石病防治研究所	203	1463	17.0	26.0
2	万牡华	暨南大学生物矿化与结石病防治研究所	6	29	3.0	5.0