基于JTAG的SoC芯片调试系统设计

• 作者: 虞致国 魏敬和
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 JTAG 调试接口 扫描链
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 24-27,48
• 页数: 5页
• 分类号: TN337
• 字数: 3014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.07.007

摘要

文章提出了一种基TIEEE 1149.1JTAG协议的SoC调试接口,该设计支持寄存器查看和设置、CPU调试、IP核调试、边界扫描测试等功能.对该接口的整体结构框图到设计都进行了详细的阐述.该接口成功地应用于测控SoC中,具有很好的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞致国		30	143	6.0	10.0
2	魏敬和		69	261	7.0	13.0