氧化物薄膜研制中的电子能谱技术

• 作者: 郭沁林
• 来源期刊: 物理
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化物薄膜 薄膜材料 电子能谱 俄歇电子能谱 电子能量损失谱
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 313-318
• 页数: 6页
• 分类号: TN3
• 字数: 4667字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.009

摘要

随着科学技术的不断发展,人们正在寻求更新的实用材料.金属氧化物,包括金属氧化物薄膜的各种实用材料,在工业界、信息产业界和能源开发等方面的应用前景,早已引起国内外学者的极大关注.例如,由于氧化物具有各种特殊的介电和光学性质,研究和开发基于氧化物薄膜的气敏材料非常热门.如何制备出有实用价值的各种薄膜材料,是科学家们一直关心和深入研究的课题.电子能谱技术在各种材料的基础研究和实际应用中起着重要的作用.本文以有序金属氧化物薄膜研制为例,简要评述了电子能谱技术(包括X射线光电子能谱(XPS),紫外光电子能谱(UPS),俄歇电子能谱(AES)和高分辨电子能量损失谱(HREELS)),以及低能电子衍射(LEED)等技术在氧化物薄膜材料制备和表征中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭沁林	中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室	3	225	2.0	3.0