伪双能X射线透射系统矫正厚度影响的物质鉴别方法

• 作者: 徐明刚 鲍旭东
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: X射线透视 厚度影响 物质识别 伪双能
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 219-221
• 页数: 3页
• 分类号: TH77
• 字数: 2641字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.01.058

摘要

X射线透视技术已被证实是一种非常有效的安全检查方法.基于这种技术的伪双能X射线透射系统广泛应用于车站、机场等重要场所.伪双能系统的射线源产生的是连续能谱的X射线,因此基于传统双能透射模型的物质鉴别方法由于受到物体的厚度影响而导致准确性的降低.在根据高低能信号的对数比值的基础上,引入X射线的衰减因素到物质属性特征空间中,研究出矫正厚度影响的鉴别方法.实验结果证明在高维特征空间中的物质鉴别方法能够有效提高鉴别结果的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鲍旭东	东南大学生物科学与医学工程系影像科学与技术实验室	89	815	15.0	22.0
2	徐明刚	东南大学生物科学与医学工程系影像科学与技术实验室	6	114	5.0	6.0