一种基于电路精简的Memory特征参数提取方法

• 作者: 杨磊 罗小华
• 来源期刊: 计算机应用与软件
• 学科: 工学
• 关键词: 电路精简 深亚微米 参数提取
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 基金项目论文
• 页码范围: 30-31,34
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 2490字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-386X.2007.01.009

摘要

提出一种基于电路精简的Memory特征参数快速提取方法.该算法通过对互连线寄生RC参数和Memory非活动存储单元的电路精简,能够快速准确地进行深亚微米工艺下Memory特征参数提取.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗小华	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	27	74	6.0	6.0
2	杨磊	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	17	97	5.0	9.0