吉时利发布新型半导体集成测试系统

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成测试系统 半导体 吉时利 自动化软件 ACS 仪器公司 系统实现 测量性能
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: I0010
• 页数: 1页
• 分类号: TN304.23

摘要

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布ACS自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。包括ACS集成测试系统在内，吉时利已在半导体特征分析领域成功建立整套高度可配置的灵活测试系统，并通过功能强大的自动化软件为用户提供无可比拟的测量性能。ACS测试系统通过统一软件套件，提供更快测量速度和更大系统灵活性。以满足用户独特的测试应用需求。