烧结温度对CaBi4Ti4O15陶瓷电性能的影响

• 作者: 张丰庆 张伟 徐静 王培吉 胡广达 范素华
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 溶胶凝胶法 烧结温度 电性能 晶格畸变
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 396-399,380
• 页数: 5页
• 分类号: TM223
• 字数: 3023字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2007.02.034

摘要

用溶胶凝胶法制备了CaBi4Ti4O15铋层状钙钛矿结构陶瓷样品,研究了烧结温度对其显微结构和电性能的影响,分析了相关机理,认为烧结温度过高主要会引起烧结过程中铋的挥发导致氧空位产生造成晶格畸变使材料"变硬"而影响样品的压电性能.发现在1100℃温度下烧结的样品为铋层状钙钛矿结构,晶粒发育完全,综合性能良好,居里温度为784℃,压电常数d33为7.7×10-12 C/N、介电损耗tanδ为2.1×10-3.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张丰庆	山东建筑大学材料科学与工程学院	42	185	8.0	11.0
2	徐静	济南大学材料科学与工程学院	27	164	8.0	11.0
3	范素华	山东建筑大学材料科学与工程学院	34	191	8.0	11.0
4	张伟	山东建筑大学材料科学与工程学院	19	113	7.0	9.0
5	王培吉	济南大学材料科学与工程学院	55	321	11.0	13.0
6	胡广达	济南大学材料科学与工程学院	12	88	5.0	9.0