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摘要:
传统的ESD保护电路设计主要基于尝试性和破坏性的实验,这种方法不利于产品的推出[1].文中提出使用ISE-TCAD工具对ESD保护电路进行模拟和优化,以快速地获取面积参数.并以某一典型0.6 μm CMOS工艺的可控硅整流器(SCR)结构为例,进行ESD人体放电模型的模拟和面积估算,达到了缩短设计周期和增加设计成功率的目的.
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文献信息
篇名 利用ISE-TCAD分析和设计SCR结构的静电保护电路
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 静电保护 ISE-TCAD 可控硅整流器
年,卷(期) 2007,(8) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 30-33,38
页数 5页 分类号 TN431.2
字数 3922字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.08.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚敏 四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室 109 372 10.0 12.0
2 邬齐荣 四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室 12 51 3.0 7.0
3 陈畅 四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室 8 19 2.0 4.0
4 向李艳 四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
静电保护
ISE-TCAD
可控硅整流器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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