一起363 kV GIS充电闪络故障的原因分析

• 作者: 刘文泉 孟可风 徐世山
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 全封闭组合电器 充电 闪络 故障
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 经验点滴
• 页码范围: 74-76
• 页数: 3页
• 分类号: TM595
• 字数: 3353字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2007.01.023

摘要

分析了一起363 kV GIS充电时闪络故障的原因,提出了GIS交接试验中做交流耐压试验的同时应进行局部放电的测量,并在条件许可的情况下进行操作冲击电压试验,以避免如绝缘子伤痕和裂痕、自由微粒、悬浮电位和异物遗留在GIS内部等原因而造成GIS故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟可风		11	89	6.0	9.0
2	徐世山		8	75	4.0	8.0
3	刘文泉		4	75	4.0	4.0