电荷放大器可靠性分析

• 作者: 张志杰 裴东兴 魏冬
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷放大器 可靠性 失效率 MTBF 故障树
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 计量技术与工程测试
• 页码范围: 86-87
• 页数: 2页
• 分类号: TN722.5+6
• 字数: 1351字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2007.01.027

摘要

介绍了电荷放大器在存储测试系统中的作用,详细说明了电荷放大器工作原理,推导出电荷量与输出电压之间的关系.通过故障树的方法对电荷放大器的可靠性进行分析,得出电荷放大器的MTBF和可靠性曲线,定量计算出电阻、电容、焊点和芯片在一个完整的存储测试电路中的失效率,定性的分析出不同部分对整体系统失效率的影响度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张志杰	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	161	1236	19.0	29.0
2	裴东兴	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	140	826	15.0	21.0
3	魏冬	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	2	31	2.0	2.0