终止电压对MB8镁合金微弧氧化膜耐蚀性的影响

• 作者: 章志友 赵晴 陈宁
• 来源期刊: 表面技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微弧氧化 镁合金 耐蚀性 终止电压
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: TG174.45
• 字数: 3314字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3660.2007.04.002

摘要

采用SEM、XRD、动电位极化曲线及电化学阻抗等测试方法,研究了MB8镁合金微弧氧化过程中不同终止电压下获得的陶瓷膜层的耐蚀性能.结果表明:终止电压越高,膜层越厚;微火花阶段,膜层表面均匀、结晶细致,腐蚀电流密度较小,阻抗较大;弧放电阶段,膜层孔径变大,陶瓷层内显微缺陷增多,腐蚀电流密度增大,阻抗减小.由此得出结论:膜层耐蚀性能由膜层厚度与终止电压共同决定,微火花放电末期膜层的耐蚀性能优于弧放电阶段的耐蚀性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵晴		102	1087	20.0	27.0
2	章志友		7	95	5.0	7.0
3	陈宁		9	106	6.0	9.0