微波暗室中两种RCS测量系统的比较

• 作者: 刘密歌 张麟兮 李南京 赵军仓
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 雷达截面积 微波暗室 测量精度
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 300-301,341
• 页数: 3页
• 分类号: TN95
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2007.03.008

摘要

目标散射截面的测量对雷达目标识别、微波成像等研究领域都至关重要;在分析目标RCS测量原理的基础上,对暗室中RCS测量的两种方法---连续波测试体制和扫频测试体制进行了比较,给出了具体测量步骤,并通过实际测试进行了结果比对,最后说明了两种方法的使用范围.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张麟兮	西北工业大学国防科技研究院	80	672	14.0	21.0
2	李南京	西北工业大学国防科技研究院	38	308	10.0	15.0
3	刘密歌	西北工业大学国防科技研究院	3	66	3.0	3.0