左手媒质基片微带天线的特性研究

• 作者: 李磊 杨锐 王鹏 谢拥军
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微带天线 左手媒质 矩量法 离散复镜像方法
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 1029-1032,1051
• 页数: 5页
• 分类号: TM15
• 字数: 2767字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2007.06.027

摘要

将离散复镜像方法推广到左手媒质基片的格林函数计算中,并应用矩量法对左手媒质基片微带天线的辐射特性进行了研究.这种新型天线在左手媒质基片负介电常数的绝对值小于或等于负磁导率绝对值时,可以得到与传统微带天线相类似的方向图;而在负介电常数的绝对值远大于负磁导率的绝对值时,所得到的方向图具有主瓣宽度窄,仰角低的特点.针对这一全新的辐射特性,提出了左手媒质基片微带天线作为高指向性天线的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢拥军	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	89	536	10.0	17.0
2	王鹏	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	40	294	9.0	16.0
3	李磊	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	37	118	6.0	6.0
4	杨锐	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	19	80	6.0	8.0