Si6N2团簇结构与性质的密度泛函理论研究

• 作者: 元丽华 张材荣 王道斌 蒲忠胜 许广济 陈宏善 陈玉红
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 氮化硅 团簇 结构与性质 密度泛函理论
• 年，卷（期）: 2007,（z1）
• 所属期刊栏目: 第三主题 原子、分子团簇物理
• 页码范围: 99-101
• 页数: 3页
• 分类号: O561.1|O641
• 字数: 1920字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2007.z1.027

摘要

用密度泛函理论(DFT)中的杂化密度泛函B3LYP方法, 在6-31G(d)的水平上对Si6N2团簇的可能结构进行了几何结构优化和电子结构计算, 得到了16个可能的异构体. Si6N2团簇的最稳定结构是有4个Si-N键和4个Si-Si键的三维结构.自然键轨道方法分析成键性质的结果表明,Si-N键中Si原子向N原子有较大的电荷转移,因此Si-N原子间有较强的电相互作用;最强的IR和Raman谱峰分别位于1359.14 cm-1和1366.29 cm-1处;并计算了Si6N2团簇的最稳定结构的极化率和超极化率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈玉红	兰州理工大学理学院	49	156	6.0	9.0
2	许广济	兰州理工大学有色金属合金及加工教育部重点实验室	52	477	12.0	18.0
3	蒲忠胜	兰州理工大学理学院	32	110	7.0	9.0
4	陈宏善	西北师范大学物理与电子工程学院	53	229	8.0	13.0
5	张材荣	兰州理工大学理学院	52	221	9.0	12.0
9	王道斌	兰州理工大学理学院	37	66	5.0	6.0
10	元丽华	兰州理工大学理学院	19	98	4.0	9.0