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摘要:
高速光器件的封装工艺中,光耦合占据重要的地位.文中针对一种高速光探测器中常用的光耦合方式——倾斜端面光纤到倒装芯片的耦合,提出了光纤耦合的柱透镜光学模型,并通过理论和光学软件模拟了各种封装工艺条件对耦合效率的影响.模拟结果显示,耦合效率的大小由光纤位置、芯片透镜尺寸和激光光源光斑形状共同决定.
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文献信息
篇名 高速光探测器模块中的耦合理论和模拟
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 光探测器 倾斜端面光纤 耦合效率 耦合容许度
年,卷(期) 2007,(2) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 275-279
页数 5页 分类号 TN305.94
字数 2306字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.02.026
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈诗育 中山大学光电材料和技术国家重点实验室 1 5 1.0 1.0
5 王钢 中山大学光电材料和技术国家重点实验室 23 81 6.0 7.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
光探测器
倾斜端面光纤
耦合效率
耦合容许度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
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8
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