从边界扫描技术协议讨论其发展与应用

• 作者: 周继承 师谦 恩云飞 肖小清
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 边界扫描 IEEE1149.1 IEEE1149.4 IEEE1149.5 IEEE1149.6 IEEE1532
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 认证与标准
• 页码范围: 59-61
• 页数: 3页
• 分类号: TN06
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.06.021

摘要

边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的.本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	师谦		11	110	7.0	10.0
2	周继承	中南大学物理学院	96	780	15.0	21.0
3	恩云飞		37	304	10.0	14.0
4	肖小清		5	31	3.0	5.0