采用热敏检测的绝缘介质寿命记录仪

• 作者: 何景彦 刘君 吴广宁 雷克刚 高波
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命试验 击穿 热敏电阻 检测 纪录仪 绝缘介质
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 高压测试
• 页码范围: 44-48,90
• 页数: 6页
• 分类号: TM934.3
• 字数: 4541字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2007.12.011

摘要

在多路绝缘介质高压方波寿命试验中,为提高加速老化绝缘寿命试验的效率,设计了监控记录各试验支路状态的热敏检测绝缘介质寿命记录仪.该仪器通过PTC热敏电阻监测高压回路中限流电阻温度变化提取介质击穿信号,以单片机AT89c55为运算控制中心,采用热信号时间差分数字算法处理及控制信号.该方式受电磁干扰小,与高压回路无直接电气连接安全性高.该记录仪已实际应用,可在1～3 s内切除击穿支路,击穿时间记录误差＜2%,装置动作时间内因其限流电阻作用能有效保护脉冲电源.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	高波	西南交通大学电气工程学院	320	5733	38.0	59.0
3	刘君	西南交通大学电气工程学院	32	562	16.0	23.0
4	雷克刚	西南交通大学电气工程学院	7	88	5.0	7.0
5	何景彦	西南交通大学电气工程学院	14	141	7.0	11.0