加速器质谱测量129I方法的改进

• 作者: 何明 吴伟明 周本胡 姜山 戸崎裕贵 末木啓介 松四雄騎 武绍勇 玉理美智子 笹公和 管永精 袁坚 長島泰夫 関李紀 阮向东 高橋努
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 加速器质谱 129I测量 静电偏转板 二次剥离
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 740-744
• 页数: 5页
• 分类号: TL817.4
• 字数: 2619字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2007.04.032

摘要

在筑波大学的12UD串列加速器上开发了一套改进的129I加速器质谱(AMS)测量方法,包括在120°磁铁后安装了一副自行设计制作有静电偏转板,有效改善了对127I束流和129I计数的测量;采用97MoO2分子导航束稳定加速器端电压,加速器的端电压能稳定在几天内不超过0.1%,结合二次剥离,取得了满意的测量效果.用该方法测得AgI试剂样品的本底水平为7.83×10-13.对129I/127I比值范围为(4.92～0.28)×10-10的一系列样品的测量不确定度在7%以下,准确度较前有所提高.