一种基于结构优化SRAMS的传感器故障诊断方法

• 作者: 付克昌 吴铁军 戴连奎
• 来源期刊: 化工学报
• 关键词: 传感器故障诊断 结构化残差方法 影响矩阵设计
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 过程系统工程
• 页码范围: 2045-2050
• 页数: 6页
• 分类号: TP277|O212.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0438-1157.2007.08.027

摘要

针对基于具有最大敏感性结构化残差的传感器故障检测与诊断方法(SRAMS)在设计影响矩阵时只考虑故障编码的可分离性,而没有考虑故障诊断的快速性和灵敏性的缺点,给出了故障敏感度和故障诊断灵敏度等指标,并提出了两种影响矩阵的优化设计算法.将本文方法应用于催化裂化过程传感器故障检测与诊断,结果验证了故障诊断效果优于原有的SRAMS.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴铁军	浙江大学工业控制技术国家重点实验室	102	2261	22.0	44.0
2	戴连奎	浙江大学工业控制技术国家重点实验室	70	881	18.0	25.0
3	付克昌	浙江大学工业控制技术国家重点实验室	2	44	2.0	2.0