激光辐照TiO2/SiO2薄膜损伤时间简捷测量

• 作者: 周维军 桂元珍 袁永华
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 激光 时间测量 损伤
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 激光与光电子技术应用
• 页码范围: 381-383
• 页数: 3页
• 分类号: O484.5
• 字数: 903字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2007.04.018

摘要

为了测量激光辐照薄膜的起始时间,采用了一种简洁易行的测量方法,利用波长1.06μm和1.315μm连续激光以及1.06μm单脉冲激光辐照典型薄膜光学元件,通过探测器接收激光脉冲信号和薄膜表面的激光反射信号,薄膜表面反射信号在激光辐照过程中的某个时刻发生突变,发生突变的时间对应着薄膜发生损伤的时间.得到1.06μm连续激光强度为7133W/cm2时,反射信号在0.8s发生突变,强度为11776W/cm2时,反射信号在0.4s发生变化;1.06μm单脉冲激光能量为48.725mJ,97.45mJ,194.9mJ时,薄膜损伤时间为3.63ns,2.727ns和1.09ns;1.315μm连续激光强度为2743W/cm2时,反射光信号在辐照时间t=3.44s发生突变;强度为4128W/cm2时,薄膜表面反射光信号在辐照时间t=1.44s发生突变.结果表明,通过测量薄膜表面反射信号的突变来确定薄膜损伤的起始时间,对于薄膜抗激光加固,以及提高光电系统的抗激光能力有着重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周维军	中国工程物理研究院流体物理研究所	18	87	7.0	8.0
2	袁永华	中国工程物理研究院流体物理研究所	17	99	6.0	9.0
3	桂元珍	中国工程物理研究院流体物理研究所	5	43	4.0	5.0