SiO2/SiO2复合材料高温介电性能演变规律及温度特性研究

• 作者: 侯志灵 张永 房晓勇 曹茂盛 李仲平
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 透波材料 有效媒质理论 介电系数 介电损耗
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与表征
• 页码范围: 28-30,41
• 页数: 4页
• 分类号: TB332
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2007.03.008

摘要

根据经高温烧蚀后SiO2/SiO2复合材料物态表征结果,分析了室温至1200℃温度范围内影响SiO2/SiO2复合材料介电性能的主要因素.运用有效媒质理论,建立计算SiO2/SiO2复合材料介电参数的经验模型,实现SiO2/SiO2复合材料高温介电性能温度特性模拟(室温～1200℃),模拟结果与实际结果基本相符.在此基础上,对1200～1500℃温度范围内SiO2/SiO2复合材料介电性能的变化规律作出预测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李仲平		5	27	3.0	5.0