FT51:一种容软错误高可靠微控制器

• 作者: 刘芳 戴葵 王志英 陈微 龚锐
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微控制器 软错误 单事件翻转 单事件瞬态 时空三模冗余 控制流检测
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 容错
• 页码范围: 1662-1673
• 页数: 12页
• 分类号: TP332
• 字数: 10132字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.2007.10.003

摘要

文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51.首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构,采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转(SEU)和组合逻辑单事件瞬态(SET)进行防护.所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护.针对现有控制流检测的不足,该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制.FT51在HJTC0.25μm工艺下进行了实现,与未经加固的版本相比,其额外的面积开销为80.6%,额外的性能开销为19%～133%.文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架,在此框架下通过模拟和理论推导证明:典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99.73%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘芳	国防科技大学计算机学院	34	380	11.0	18.0
2	王志英	国防科技大学计算机学院	108	680	15.0	21.0
3	戴葵	国防科技大学计算机学院	63	410	12.0	18.0
4	陈微	国防科技大学计算机学院	5	39	3.0	5.0
5	龚锐	国防科技大学计算机学院	6	46	3.0	6.0