E类放大电路中晶体管的功率损耗

• 作者: 刘平 曾波
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: E类放大器 晶体管 功率损耗 DC-DC变换器
• 年，卷（期）: 2007,（16）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 171-173,176
• 页数: 4页
• 分类号: TN721
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.16.057

摘要

在理想情况下,E类放大电路的效率可以达到100%,因此E类放大电路适用于高功率,高频率电路的设计,但在实际情况下,由于所有的器件都不是理想的.例如,电感、电容中会有寄生电阻的存在,晶体管的饱和电压,饱和电阻以及集电极电流的下降时间不为零,这些因素的存在都会导致E类放大电路的效率降低,但当电路的负载匹配且处于谐振状态,则引起电路功率损耗的主要因素也就是晶体管中的功率损耗.对E类放大电路中由晶体管引起的损耗进行分析,并得出简单的估算方法,并用实验的方法验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘平	郑州大学信息工程学院	59	239	8.0	11.0
2	曾波	郑州大学信息工程学院	5	20	3.0	4.0