基于遗传算法的模拟电路故障诊断激励优化

• 作者: 殷时蓉 谢永乐 陈光(礻禹)
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 遗传算法 模拟电路 故障诊断
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TN710
• 字数: 3756字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2007.06.007

摘要

介绍了用改进的遗传算法优化激励信号的参数.仿真实验表明,经过优化后的激励信号能大大提高模拟电路的故障诊断效率,对线性和非线性模拟电路都适用.