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摘要:
采用直接键合的方法成功实现了n-GaAs和p-GaN晶片的高质量键合.扫描电子显微镜观测结果表明,键合界面没有空洞.键合前后光致发光谱测试表明,键合工艺对材料质量影响不大.室温下界面的电流-电压特性表明,键合得到的n-GaAs/p-GaN异质结为肖特基二极管并且理想因子为1.08.n-GaAs和p-GaN材料直接键合的成功对于集成GaAs和GaN材料制备光电集成器件有重要意义.
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关键词热度
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文献信息
篇名 n-GaAs和p-GaN晶片的直接键合
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 光电集成 直接键合 GaAs GaN
年,卷(期) 2007,(11) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1815-1817
页数 3页 分类号 TN304
字数 1665字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.11.028
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李慧 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 120 1144 19.0 29.0
2 陈良惠 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 59 338 11.0 15.0
3 种明 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 12 102 6.0 10.0
4 曹玉莲 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 15 78 5.0 8.0
5 何国荣 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 10 50 3.0 6.0
6 渠红伟 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 12 34 3.0 5.0
7 石岩 中国科学院半导体研究所纳米光电实验室 4 6 2.0 2.0
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
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1980
eng
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