电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响

• 作者: 梁军 郝京诚
• 来源期刊: 材料保护
• 学科: 工学
• 关键词: 镁合金 微弧氧化 电流密度 微观结构 耐蚀性
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 24-26,29
• 页数: 4页
• 分类号: TG174.451
• 字数: 2038字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1560.2007.08.008

摘要

电流密度是影响微弧氧化膜层结构和性能的主要因素之一.采用测厚仪、扫描电镜(SEM)、电化学测试等手段研究了AM60B镁合金在不同电流密度下硅酸盐溶液中微弧氧化膜层的结构和耐蚀性能.结果表明,随电流密度的增大,氧化膜厚度呈线性增加;氧化膜的表面微孔数目减少,微裂纹扩展程度增大.电化学腐蚀测试结果显示,电流密度9.0 A/dm2下生成的氧化膜耐蚀性最好,主要与膜层较致密的微观结构有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝京诚	中国科学院兰州化学物理研究所固体润滑国家重点实验室	8	44	4.0	6.0
2	梁军	中国科学院兰州化学物理研究所固体润滑国家重点实验室	48	593	14.0	22.0