浅析光纤连接器插入损耗测试

• 作者: 张雪梅
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 光纤连接器 插入损耗 测试 试验
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 消费产品测试
• 页码范围: 23-24,28
• 页数: 3页
• 分类号: TN806
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.11.007

摘要

本文介绍了光纤连接器的基本结构,阐述了导致光纤连接器产生插入损耗的主要原因,对实际测试和试验中发现的问题进行了分析,给出连接器测试及试验的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张雪梅	中国电子科技集团公司第八研究所	6	14	2.0	3.0