光子晶体缺陷腔品质因子的数值设计与优化

• 作者: 刘靖 吴铭 孙军强 黄德修 黄重庆
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 物理学
• 关键词: 品质因子 缺陷腔 时域有限差分法 光子晶体
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 391-394
• 页数: 4页
• 分类号: O734
• 字数: 4102字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2007.03.024

摘要

从品质因子的原始定义出发,得出了一种可编程的光子晶体缺陷腔品质因子的数值设计方案,基于三维时域有限差分法编写了该方案的计算软件,借助该模拟软件,计算了硅基二维四方晶体和三角晶体微腔的品质因子.结果表明,尽管四方晶体的带隙宽度比三角晶体窄,但能获得更高的品质因子,更有利于提高滤波分辨率和耦合效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄德修	华中科技大学武汉光电国家实验室	245	1938	20.0	28.0
2	黄重庆	湖南理工学院物电系	13	42	4.0	5.0
3	刘靖	华中科技大学武汉光电国家实验室	30	339	9.0	17.0
7	孙军强	华中科技大学武汉光电国家实验室	100	526	11.0	14.0
8	吴铭	华中科技大学武汉光电国家实验室	8	79	4.0	8.0