基于高精度理论截面计算的τ质量的再拟合

• 作者: 刘觉平 王由凯 苑长征 莫晓虎
• 来源期刊: 高能物理与核物理
• 学科: 物理学
• 关键词: τ质量 截面 极大似然法
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 粒子与场
• 页码范围: 325-331
• 页数: 7页
• 分类号: O57
• 字数: 1516字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3052.2007.04.001

摘要

对于e+e-→τ+τ-过程在阈值附近的截面,目前的理论计算精度已经达到10-4.基于理论截面的高精度计算,利用极大似然函数方法,重新拟合由eμ末态标记的τ+τ-事例的扫描数据,得到τ质量的测量结果为1776.98-0.51-0.13+0.44+0.12 MeV,其中第一项是统计误差,由拟合程序给出;第二项是系统误差,主要包含能量刻度,能散及本底估计等三方面的不确定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苑长征	中国科学院高能物理研究所	28	22	3.0	3.0
2	莫晓虎	中国科学院高能物理研究所	17	8	1.0	1.0
3	刘觉平	武汉大学物理科学与技术学院	18	33	2.0	5.0
4	王由凯	中国科学院高能物理研究所	1	2	1.0	1.0