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摘要:
为提高光锥耦合ICCD成像系统的光响应均匀性,对光锥耦合过程造成光响应不均匀性的机理进行了分析,并用微观图解的方法清晰剖析不均匀性的产生机理. 从CCD光敏元、光锥纤维、像增强器光纤面板输出面的微观结构出发,通过实测图像合成,模拟再现了不均匀性的产生过程,分析了其主要因素,阐明了不均匀度的严重性,提出了通过减小光锥光纤直径改善ICCD的响应不均匀性的解决方案.
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文献信息
篇名 光锥耦合对ICCD响应不均匀性的影响分析
来源期刊 北京理工大学学报 学科 工学
关键词 增强CCD 光锥耦合 不均匀性 产生机理
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目 光学与电子工程
研究方向 页码范围 354-357
页数 4页 分类号 TN911.73
字数 2262字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-0645.2007.04.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 金伟其 北京理工大学信息科学技术学院光电工程系 310 4324 34.0 50.0
2 高稚允 北京理工大学信息科学技术学院光电工程系 57 922 17.0 28.0
3 白廷柱 北京理工大学信息科学技术学院光电工程系 94 750 13.0 23.0
4 崔志刚 北京理工大学信息科学技术学院光电工程系 8 47 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
增强CCD
光锥耦合
不均匀性
产生机理
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北京理工大学学报
月刊
1001-0645
11-2596/T
大16开
北京海淀区中关村南大街5号
82-502
1956
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