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原文服务方: 电子质量       
摘要:
本文介绍了5406、5407、TC4423、TC4424、TC4425等驱动集成电路的电性能参数,说明了对这类能输出高电压或大电流集成电路的测试原理,给出了以小型微型计算机测试系统为主,加以其它辅助方法进行这类电路包括高电压和大电流的全参数测试的方案.
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文献信息
篇名 用计算机测试系统及辅助方法测试高压大电流功率驱动集成电路
来源期刊 电子质量 学科
关键词 高电压或大电流驱动集成电路 计算机测试系统 辅助测试方法
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目 理论与研究
研究方向 页码范围 11-13,33
页数 4页 分类号 TN707
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.04.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王广武 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
高电压或大电流驱动集成电路
计算机测试系统
辅助测试方法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
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0
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15176
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