一维掺杂光子晶体缺陷模的全貌特征

• 作者: 刘启能
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 物理学
• 关键词: 掺杂光子晶体 缺陷模 特征矩阵 全貌特征
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 224-227
• 页数: 4页
• 分类号: O436
• 字数: 2320字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2007.02.019

摘要

通过一维掺杂光子晶体缺陷模的三个不同角度的立体图以及它们对应的俯视切面图,全面地研究了缺陷模随杂质光学厚度、杂质折射率以及光子晶体折射率的变化关系,得出了一维掺杂光子晶体缺陷模的全貌特征,并得到以下重要结论:缺陷模透射峰随杂质光学厚度变化呈周期性的出现,在同一周期上缺陷模的波长随杂质光学厚度呈线性变化;缺陷模透射峰的半高宽度随杂质折射率的增加而减小,但陷模透射峰的高度不受杂质折射率变化的影响;光子晶体的折射率对缺陷模透射峰的峰高和半高宽度都有显著的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘启能	重庆工商大学理学院	169	1028	19.0	24.0