现代表面分析技术用于纤维表面研究的新进展

• 作者: 张正健 胡惠仁
• 来源期刊: 中国造纸
• 学科: 工学
• 关键词: 纤维表面 原子力显微镜 化学力显微镜 X射线光电子能谱 飞行时间二次离子质谱
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 53-58
• 页数: 6页
• 分类号: TS721+.1
• 字数: 6146字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-508X.2007.12.015

摘要

阐述了原子力显微镜(AFM)、化学力显微镜(CFM)、X射线光电子能谱(XPS)、飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMs)几种先进表面分析技术的基本原理以及用于纸浆纤维表面研究的新进展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡惠仁	天津科技大学天津市制浆造纸重点实验室	207	1939	21.0	29.0
2	张正健	天津科技大学天津市制浆造纸重点实验室	43	91	5.0	7.0