基于Bayes分析的测量仪器的测量过程控制

• 作者: 孙群 孟晓风 赵颖
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 测量仪器 测量过程控制 贝叶斯分析 控制图
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 1658-1661
• 页数: 4页
• 分类号: TM930
• 字数: 2932字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.05.035

摘要

在两次计量校准间隔期内,采用测量过程控制方法保证测量仪器的精度.针对传统Shewhart控制图方法在统计分析中容易出现 "误发警报"错误的问题,提出一种基于Bayes分析的控制图方法,并进行了实验验证.Bayes分析充分利用先验信息,进行分布的参数估计,从而优化控制限.实验表明,与传统的Shewhart控制图相比,改进后的控制图控制限变宽,降低了"误发警报"错误的概率,适合用于小样本核查数据的统计分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟晓风	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	157	991	15.0	23.0
2	孙群	聊城大学汽车与交通工程学院	47	248	9.0	14.0
3	赵颖	聊城大学汽车与交通工程学院	38	185	8.0	12.0