一次传递样品238U、232Th活度测定比对及对以往一些环境辐射调查的联想

• 作者: 刁立军 李贵群 程建平 苏琼
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 238U 232Th γ-射线 γ著 比对 X-射线 干扰
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 914-923
• 页数: 10页
• 分类号: TL7
• 字数: 7829字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2007.05.027

摘要

本文报告了一个刻度源及测量对象都是采用传递样品方式进行的实验室间γ分析比对.文中特别对外源性X射线干扰的影响进行了研究和较详细的叙述.此外,本工作还对影响比对结果的其它因素也做了讨论,它明确指出,那些受外源性特征X射线干扰的特征γ峰不应该被用来测定样品的γ放射性活度.最后,本文还对以往的一些环境辐射调查阐述了一些联想.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程建平	清华大学工程物理系核技术研究所	107	664	13.0	20.0
2	苏琼	清华大学工程物理系核技术研究所	9	44	4.0	6.0
3	刁立军		9	43	3.0	6.0
4	李贵群		3	8	2.0	2.0