裸芯片的IDDQ测试筛选方法研究

• 作者: 刘林春
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: IDDQ 裸芯片 筛选
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2938字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.06.013

摘要

IDDQ测试在裸芯片的测试筛选中非常有用.为了获得更高质量与可靠性的产品,许多公司在CMOS生产线中引入了IDDQ测试筛选技术,现在IDDQ测试筛选技术已经作为保证芯片可靠性的重要手段.本文介绍了IDDQ测试筛选技术的重要概念以及其在保证裸芯片可靠性方面的重要作用,并对深亚微米器件中的IDDQ测试筛选方法做了重点介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘林春	广东工业大学材料与能源学院	3	6	2.0	2.0