数字电路测试生成中的几种仿生优化算法

• 作者: 王宇 陈宇
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试生成 仿生优化 粒子群算法 人工神经元网络 蚁群算法 遗传算法
• 年，卷（期）: 2007,（9）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 132-134,137
• 页数: 4页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 4610字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2007.09.043

摘要

数字集成电路的快速发展对电路测试提出了日益紧迫的要求,为获得较好的数字电路的故障覆盖率和测试集,减少反向回溯,很多仿生学算法应用到了电路的测试生成当中,现介绍了在测试生成领域中有重大影响的几种仿生优化算法以及各自特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宇	黑龙江大学计算机科学与技术学院	21	81	6.0	8.0