ATE功能测试码生成方法

• 作者: 尤坤 王慧
• 来源期刊: 通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片测试 功能测试ATE ATE功能测试码 端口真值表
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 其他
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TN4|TN492|TN431.2
• 字数: 3222字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0802.2007.10.024

摘要

文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤坤		1	3	1.0	1.0
2	王慧		2	6	2.0	2.0