通过TRL校准提取管芯S参数的技术

• 作者: 冯彬 刘英坤 孙艳玲 董四华
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: TRL校准 管芯S参数 仿真
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与没备
• 页码范围: 174-177
• 页数: 4页
• 分类号: TN385|TN402
• 字数: 1787字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2007.02.021

摘要

介绍了一种基于TRL法的提取管芯S参数的方法.该方法从TRL校准出发,实际测量得到封装器件的S参数;管芯以外的参量(管壳及键和线)用等效电路表示,最后用微波仿真软件模拟得到管芯S参数.此方法在没有精确的测试夹具条件下,仍可以得到较理想的器件和管芯S参数.实验证明该方法简便、实用性强,可推广应用于不宜直接测量管芯S参数的器件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘英坤	河北工业大学信息工程学院	30	183	8.0	12.0
3	冯彬	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	45	4.0	5.0
4	董四华	河北工业大学信息工程学院	6	31	3.0	5.0
8	孙艳玲	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	31	3.0	5.0