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摘要:
提出了建立电路Kriging元模型,并与遗传算法相结合确定电路参数,优化电路的方法.相对传统多项式回归模型,Kriging模型更适合电路仿真的实验类型;利用遗传算法,解决了基于Kriging元模型电路系统的全局优化问题.最后将该方法应用于带隙基准电路设计,取得令人满意的结果.
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文献信息
篇名 基于遗传算法的Kriging元模型及其在模拟集成电路优化设计中的应用
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 模拟集成电路 Kriging元模型 最优化 遗传算法
年,卷(期) 2007,(8) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1325-1329
页数 5页 分类号 TP302
字数 3551字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.08.031
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 游海龙 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 21 187 8.0 13.0
2 贾新章 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 63 572 14.0 20.0
3 王少熙 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 8 61 5.0 7.0
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半导体学报(英文版)
月刊
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大16开
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1980
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