气隙设计对电感绕组损耗的影响

• 作者: 任小永 旷建军 阮新波
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 电感 气隙 分布气隙 气隙布置 绕组损耗
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 设计与仿真
• 页码范围: 60-63
• 页数: 4页
• 分类号: TM552
• 字数: 2168字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2007.10.018

摘要

鉴于绕组区域处的磁场分布对高频磁性元件的铜损影响很大,利用有限元分析,研究了气隙在磁芯柱位置对铜箔绕组和漆包线绕组铜损产生的影响,以及分布气隙参数对绕组铜损的影响.结果表明:气隙在磁芯柱位置对铜箔和漆包线绕组的铜损影响不同.在分布气隙设计中,气隙之间的距离大于5个气隙长度时,气隙之间的影响可以忽略.分布气隙个数的选择,应该使绕组到气隙的距离大于3个而不超过5个气隙的长度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮新波	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	190	5434	42.0	66.0
2	任小永	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	26	322	9.0	17.0
3	旷建军	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	6	164	3.0	6.0