双端口RAM在PROFIBUS_DP智能从站中的应用研究

• 作者: 江平 赵辉
• 来源期刊: 制造业自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 双端口RAM IDT7132 PROFIBUS_DP智能从站 实时性 可靠性
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 厂商在线
• 页码范围: 81-83
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 2382字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0134.2007.02.022

摘要

在PROFIBUS_DP智能从站设计中,通信的实时性、可靠性是一个重要的衡量指标.本文介绍了双端口RAM IDT7132在PROFIBUS_DP智能从站中的应用.对提高PROFIBUS_DP智能从站通信的实时性、可靠性提供了思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵辉	天津理工大学自动化与能源工程学院	109	841	15.0	25.0
2	江平	天津理工大学自动化与能源工程学院	2	19	2.0	2.0