智能机内测试研究综述

• 作者: 宋东 张超 许家栋 马存宝
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 智能机内涮试 涮试性 虚警 粗糙集 故障诊断
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 141-144,181
• 页数: 5页
• 分类号: TN56
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2007.02.001

摘要

机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,已大量应用于当代航空系统和武器装备中.但虚警问题是困扰BIT应用的重大难题,并严重影响着武器装备的战备完好性和全寿命周期费用;因此,为从根本上解决BIT的虚警问题,智能BIT技术就成为测试领域21世纪的重点研究项目之一;首先简要介绍了BIT虚警的两个主要产生原因,然后重点概述了智能BIT的发展状况,并分析了当前研究方法中存在的不足,最后在研究BIT不确定性的基础上提出了基于粗糙集的智能BIT故障诊断新技术,并指出了该技术中需要研究的若干关键问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许家栋	西北工业大学电子信息学院	331	2081	18.0	30.0
2	马存宝	西北工业大学航空学院	99	559	12.0	18.0
6	宋东	西北工业大学航空学院	79	456	11.0	15.0
7	张超	西北工业大学航空学院	54	423	12.0	18.0