基于NIOS边界扫描测试平台的开发

• 作者: 彭立章 杨春玲
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 NIOS USB 嵌入式
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 2129-2132
• 页数: 4页
• 分类号: TM930.9
• 字数: 2249字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.06.040

摘要

阐述一种新颖的基于NIOS边界扫描测试平台的设计,提出了采用SOPC技术的一种更加灵活、高效的嵌入式系统新解决方案.该方案将边界扫描主控器系统的多功能模块集成在Altera公司推出的低成本、高密度、具有嵌入式NIOS软核CPU的现场可编程门阵列(FPGA)上,大大提高了系统设计的灵活性、边界扫描的测试效率.同时USB接口技术的应用使得边界扫描测试系统具有热插拔,传输速率快等优点.详细论述了具有自主知识产权的JTAG总线控制模块的设计和NIOS平台上USB固件开发.实验结果表明,此测试平台的设计正确有效,能够进行精确的故障诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨春玲	哈尔滨工业大学电气工程学院	54	329	12.0	15.0
2	彭立章	哈尔滨工业大学电气工程学院	3	18	2.0	3.0