一种改进的基于SAT的多错误诊断算法

• 作者: 吴洋 唐璞山
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 设计错误诊断 布尔可满足性 电子设计自动化
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 9-13
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.02.003

摘要

改进了一种组合电路设计错误诊断DED(Design Error Diagnosis)算法.它使用多可满足性问题(SAT)求解技术,通过对布尔可满足解计数来实现对多个逻辑错误的诊断定位.改进了电路诊断架构,新架构的合取范式表述所使用的变量和子句数目大为减少;通过多种启发式方法,避免了不必要的操作,使算法在时间和内存上保持有效性.