一种用于提取超大规模集成电路电容的新型库查找法

• 作者: 张杰 王浩刚 赵鹏 陈抗生
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 库查找法 多层 VLSI互连线 互连线电容
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1794-1802
• 页数: 9页
• 分类号: TN405.97
• 字数: 6408字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.11.024

摘要

提出了八种节点电容典型结构用以建立电容模型库,并阐明了这八种结构可以提取大多数VLSI互连线的电容参数,给出了这些结构的拟合公式.采用该库查找法计算的互连线电容结果与FastCap所得结果非常吻合.由于电容是直接代入拟合公式计算得到的,所以计算速度非常快.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈抗生	浙江大学信息与电子工程学系	111	1373	20.0	32.0
2	赵鹏	浙江大学信息与电子工程学系	12	62	3.0	7.0
3	张杰	浙江大学信息与电子工程学系	47	178	7.0	12.0
4	王浩刚	浙江大学信息与电子工程学系	3	6	2.0	2.0