LTE TDD系统随机接入过程研究

• 作者: 寇会如 毕海洲 谢永斌
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 随机接入 LTE TDD 碰撞概率
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 信息与网络安全
• 页码范围: 86-88,94
• 页数: 4页
• 分类号: TN914
• 字数: 3332字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2007.10.029

摘要

随机接入技术是移动通信系统中UE与网络建立连接,进行通信的首要步骤,设计一种快速有效的随机接入过程将对系统的性能具有重要的意义.首先对LTE系统随机接入技术的进展情况进行了介绍,然后重点介绍一种基于LCR TDD帧结构的随机接入过程,给出接入流程.最后对碰撞概率进行定量分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢永斌		18	112	7.0	10.0
2	寇会如		2	20	2.0	2.0
3	毕海洲		2	20	2.0	2.0