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摘要:
根据流体动力学模型,研究了反应气体在反应室内的浓度分布,以及反应室的温场分布.NH3浓度在衬底附近分布均匀,而GaCl浓度在衬底中心区域较大,周边较小.实验结果表明,外延层在中心区生长速率为260μm/h,周边为140/μm/h.X射线摇摆曲线半高宽为141".O杂质的引入,使得样品具有较强的黄光发射.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 竖直式HVPE反应系统的理论模拟与GaN厚膜生长
来源期刊 半导体学报 学科 物理学
关键词 氢化物气相外延 理论模拟 GaN
年,卷(期) 2007,(z1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 253-256
页数 4页 分类号 O472
字数 1126字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.z1.063
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李晋闽 中国科学院半导体研究所 75 652 13.0 23.0
2 曾一平 中国科学院半导体研究所 85 439 11.0 16.0
3 段瑞飞 中国科学院半导体研究所 8 34 4.0 5.0
4 马平 中国科学院半导体研究所 45 544 12.0 21.0
5 王军喜 中国科学院半导体研究所 32 155 8.0 10.0
6 魏同波 中国科学院半导体研究所 13 254 7.0 13.0
7 段垚 中国科学院半导体研究所 5 13 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
氢化物气相外延
理论模拟
GaN
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
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