基于实际结温分布中小电流过趋热效应的验证

• 作者: 卢烁今 张兴华 朱阳军 苗庆海
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 热谱曲线 电流密度 过趋热性 有效面积
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1112-1116
• 页数: 5页
• 分类号: TN301
• 字数: 3053字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.07.022

摘要

对于从红外热像图得到的实际的晶体管结温分布,通过热谱分析方法获得该温度分布对应的热谱曲线,进而建立了晶体管子管并联模型,并在此基础上,经过实验和理论计算证实了pn结中小电流过趋热效应存在的真实性.当结温分布不均匀时,对于通过pn结的电流,小电流比大电流更具有趋热性.即电流越小,高温区与低温区电流密度的比值越大,电流越集中在高温区,且集中区域的面积随着电流的减小而缩小.利用这一特性可以研究器件热电不稳定性,结温分布的不均匀性及不均匀度,峰值结温的估算等,这对于半导体器件可靠性分析具有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张兴华	山东大学物理与微电子学院	52	342	11.0	14.0
2	苗庆海	山东大学物理与微电子学院	14	69	6.0	7.0
3	卢烁今	山东大学物理与微电子学院	5	28	3.0	5.0